Trwa ładowanie. Prosimy o chwilę cierpliwości.
Wydarzenie archiwalne
28 listopada
do 29 listopada
2016
Miasto: Warszawa
Organizator: Puls Biznesu

Audit & Fraud Forum 2016

Typ wydarzenia: Seminaria i konferencje

Dynamicznie zmieniające się otoczenie gospodarcze i coraz liczniejsze rodzaje ryzyka wymagają od audytu nieustającego poszukiwania nowych rozwiązań. Efektywne zarządzanie ryzykiem gospodarczym jest jednym z kluczowych zadań, z którego są  rozliczani specjaliści, a to z uwagi m.in. na fakt, iż inwestorzy bacznie przyglądają się wynikom firmy i jej działaniom oraz podatności na wszelkie rodzaje ryzyka, które powinny być kontrolowane i ograniczane. Z drugiej zaś strony działaniom firmy przyglądają się instytucje i organy nadzorcze, które kontrolują ewentualne efekty wynikające z braku dostatecznego zapobiegania ryzykom i nadużyciom.

Cel konferencji to przedstawienie rozwiązań, które spowodują, że komórka audytu będzie funkcjonować jeszcze efektywniej a jej działania przyniosą wymierne korzyści, tj.:
• usprawnienie procesów i wdrożenie procedur wewnętrznych;
• uniknięcie strat poprzez odpowiednie procedury kontrolne;
• wsparcie zarządu w efektywnym zarządzaniu firmą.

Organizatorzy postawili na skuteczne i sprawdzone rozwiązania, na doświadczonych praktyków rynkowych, na interaktywne formuły spotkania oraz innowacyjną wiedzę i zaangażowanie.

Dlaczego warto wziąć udział w konferencji?
• jasno określony cel – praktyczne rozwiązania wdrożone w innych organizacjach, również na szczeblu europejskim;
• doświadczenie – zaproszeni prelegenci to praktycy z wieloletnim doświadczeniem;
• innowacyjne rozwiązania – udział w warsztacie, podczas którego uczestnicy dowiedzą się, jak wykorzystywać metody FBI przy zwalczaniu i wczesnym wykrywaniu nadużyć;
• integracja i interakcja – z myślą o uczestnikach spotkania poza formułą konferencyjną organizatorzy oferują dwa interaktywne warsztaty, a prelegenci z chęcią odpowiedzą na pytania po każdej prelekcji.

Kontakt: 
tel.: 22 333 97 77
e-mail: szkolenia@pb.pl
Więcej informacji »